Photometric determination of traces of metals general aspects
E.B. Sandell, Hiroshi Onishi (John Wiley and Sons, 1978)
|
| Jenis Koleksi : | Buku Teks |
| No. Panggil : | 546.3 SAN p |
| Entri utama-Nama orang : | |
| Entri tambahan-Nama orang : | |
| Subjek : | |
| Penerbitan : | New York: John Wiley and Sons, 1978 |
| Sumber Pengatalogan: | |
| ISBN: | 0471030945 |
| Tipe Konten: | |
| Tipe Media: | |
| Tipe Carrier: | |
| Edisi: | Fourth edition |
| Catatan Seri: | Chemical analysis ; v.3 |
| Catatan Umum: | |
| Catatan Versi Asli: | |
| Deskripsi Fisik: | ix, 1085 p. : ill. ; 24 cm. |
| Lembaga Pemilik: | Universitas Indonesia |
| Lokasi: | Perpustakaan UI, Lantai 2 |
| No. Panggil | No. Barkod | Ketersediaan |
|---|---|---|
| 546.3 SAN p | 01-10-03005181 | TERSEDIA |
| 546.3 SAN p | 01-10-03005182 | TERSEDIA |
| Ulasan: |
| Tidak ada ulasan pada koleksi ini: 140354 |
