Aplikasi spektroskopi refleksi untuk mengukur beberapa parameter dalam teknik lapisan tipis
(Universitas Indonesia, 1990)
|
| Jenis Koleksi : | UI - Skripsi Membership |
| No. Panggil : | S28005 |
| Program Studi : | |
| Subjek : | |
| Penerbitan : | [Place of publication not identified]: Universitas Indonesia, 1990 |
| Bahasa : | ind |
| Sumber Pengatalogan : | |
| Tipe Konten : | |
| Tipe Media : | |
| Tipe Carrier : | |
| Deskripsi Fisik : | iii, 48 hlm. : ill. ; 28 cm. |
| Naskah Ringkas : | |
| Lembaga Pemilik : | Universitas Indonesia |
| Lokasi : | Perpustakaan UI, Lantai 3 |
| No. Panggil | No. Barkod | Ketersediaan |
|---|---|---|
| S28005 | TERSEDIA |
| Ulasan: |
| Tidak ada ulasan pada koleksi ini: 20177093 |
