Artikel Jurnal :: Kembali

Artikel Jurnal :: Kembali

Investigation of annealing effect on the forward bias and leakage current changes of P-Type 6H-SiC schottky diodes with SiO2 RAMP profile after Irradiated up to 1.75 MGY: Application for nuclear fuel elements facilities

([Publisher not identified] , [Date of publication not identified] )

 Metadata

Jenis Koleksi : Artikel Jurnal
No. Panggil : URANIA 15 (1-4) 2009
Subjek :
Sumber Pengatalogan :
ISSN :
Majalah/Jurnal : Urania : jurnal ilmiah daur bahan bakar nuklir, 15 (1-4) 2009: 20-24
Volume :
Tipe Konten :
Tipe Media :
Tipe Carrier :
Akses Elektronik :
Institusi Pemilik :
Lokasi :
  • Ketersediaan
  • Ulasan
  • Sampul
No. Panggil No. Barkod Ketersediaan
URANIA 15 (1-4) 2009 TERSEDIA
Ulasan:
Tidak ada ulasan pada koleksi ini: 20393734
Cover