UI - Tesis Membership :: Kembali

UI - Tesis Membership :: Kembali

Studi sifat struktur dan sifat listrik material perovskite LaFe1-xTixO3 ( x = 0.4, 0.5, 0.6 ) = Study of structure and electrical properties of material perovskite LaFe1-xTixO3 ( x = 0.4, 0.5, 0.6 ) / Dedy Yushari Jufri

Dedy Yushari Jufri; Djoko Triyono, supervisor; Muhammad Aziz Majidi, examiner; Efta Yudiarsah, examiner; Dede Djuhana, examiner ([Publisher not identified] , 2018)

 Abstrak

ABSTRAK
Perovskite LaFe1-xTixO3 x = 0.4, 0.5, 0.6 telah disintesis menggunakan metode sol-gel. Hasil Rietvield refinement dari spektrum X-ray diffraction XRD mengkonfirmasi fase tunggal dengan struktur kristal orthorombic untuk semua sampel. Ukuran kristal menurun seiring peningkatan jumlah-Ti, dari 256.5 nm x = 0.4 , 205.0 nm x = 0.5 dan 156.5 nm x = 0.6 . Scanning electron microscopy SEM menunjukkan distribusi grain yang inhomogen dengan beberapa porositas. Sifat listrik suatu material dianalisis menggunkana metode impedansi spektroskopi pada rentang frekuensi 1kHz - 1MHz dan rentang temperatur 50oC ndash; 300oC. Analisis impedansi menunjukkan sifat Negative temperature coefficient of resistance NTCR dan sifat semikonduktor untuk semua sampel. Analisis dielektrik menunjukkan semua sampel memiliki konstanta dielektrik ge; 105 yang mengindikasikan sifat Colossal Dielectric Constant pada sampel. Sifat dispersi pada konduktivitas listrik memenuhi single Jonsher power law. Konduktivitas dc yang bergantung temperatur reciprocal mematuhi hukum Arrhenius dan aktivasi mekanisme konduksi secara termal. Aktivasi energi Ea pada sampel memberikan bukti mekanisme konduksi yang dipengaruhi oleh migrasi vakansi oksigen dan ion oksida.

ABSTRACT
Perovskite LaFe1 xTixO3 x 0.4, 0.5, 0.6 has been synthesized using the sol gel method. Rietvield refinement results from the X ray diffraction spectrum XRD confirm a single phase with orthorhombic crystal structure for all samples. The crystals size decreases with increasing number of Ti, from 256.5 nm x 0.4 , 205.0 nm x 0.5 and 156.5 nm x 0.6 . Scanning electron microscopy SEM shows an inhomogeneous grain distribution with some porosity. Electrical properties of the material in the analysis using spectroscopic impedance method in the frequency range 1 kHz 1MHz and temperature range 50oC 300oC. Impedance analysis shows the Negative temperature coefficient of resistance NTCR properties and semiconductor properties for all samples. Dielectric analysis shows all samples have dielectric constants ge 105 which indicate Colossal Dielectric Constant properties in the sample. The nature of dispersion in electrical conductivity satisfies the Jonsher power law single. The reciprocal temperature dependent dc conductivity obeys Arrhenius law and thermally conductive mechanism activation. The energy activation Ea in the sample provides evidence of conduction mechanisms that are affected by the migration of oxygen and oxide ions.

 File Digital: 1

Shelf
 T50592-Dedy Yushari Jufri.pdf :: Unduh

LOGIN required

 Metadata

Jenis Koleksi : UI - Tesis Membership
No. Panggil : T50592
Entri utama-Nama orang :
Entri tambahan-Nama orang :
Entri tambahan-Nama badan :
Program Studi :
Subjek :
Penerbitan : [Place of publication not identified]: [Publisher not identified], 2018
Bahasa : ind
Sumber Pengatalogan : LibUI ind rda
Tipe Konten : text
Tipe Media : unmediated ; computer
Tipe Carrier : volume ; online resource
Deskripsi Fisik : xi, 43 pages : illustration ; 28 cm + appendix
Naskah Ringkas :
Lembaga Pemilik : Universitas Indonesia
Lokasi : Perpustakaan UI, Lantai 3
  • Ketersediaan
  • Ulasan
  • Sampul
No. Panggil No. Barkod Ketersediaan
T50592 15-20-867990394 TERSEDIA
Ulasan:
Tidak ada ulasan pada koleksi ini: 20475944
Cover