Hasil Pencarian  ::  Simpan CSV :: Kembali

"Analisis struktur kristal merupakan salah satu bagian dari analisis struktur mikro suatu material. Untuk menganalisis struktur kristal dapat digunakan metode difraksi sinar-X (XRD). Dari hasil penelitian sebelumnya diperoleh bahwa fasa baru CaMnO3 dan LaMnO3 terbentuk pada proses milling selama 12 jam dan pemanasan 1000 ºC selama 9 jam. Studi analisis struktur kristal CaMnO3 dan LaMnO3 dalam penelitian ini diperoleh melalui proses refinement menggunakan program Fullprof terhadap data hasil difraksi sinar-X yang telah didapatkan pada penelitian sebelumnya. CaMnO3 memiliki analisis yang baik pada sistem kristal orthorhombik space group Pnma dengan parameter kisi pada temperatur 300 K adalah a = 5.2626 Å, b = 7.4438 Å, dan c = 5.2167 Å sedangkan LaMnO3 memiliki analisis yang baik pada sistem kristal monoklinik space group P1121/a dengan parameter kisi pada temperatur 300 K adalah a = 5.4864 Å, b = 7.7905 Å, c= 5.5304 Å, dan sudut γ = 90.779 0.

---

Crystal structure analysis represents one part of the microstructure analysis for materials. To analyze crystal structure can use X-Ray Diffraction method (XRD). From result of earlier research the new phase of CaMnO3 and LaMnO3 formed by milling process 12 hours and heating process 9 hours at temperature 1000 0C. The analyze study of crystal structure of CaMnO3 and LaMnO3 at this research result by refinement process with Fullprof program based on X-Ray Diffraction data from earlier research. CaMnO3 is good analysis at crystal system on orthorhombic space group Pnma with lattice parameter at temperature 300 K is a = 5.2626 Å, b = 7.4438 Å, and c = 5.2167 Å meanwhile LaMnO3 is good analysis at crystal system on monoclinic space group P1121/a with lattice parameter at temperature 300 K is a = 5.4864 Å, b = 7.7905 Å, c = 5.5304 Å, and γ angle = 90.779 0."

"In this experiment X-ray diffraction was used to measure the diffraction spaces of some crystal units, namely MgO, LiF and NaF. Monochromatics X-rays with 0.154 nm wavelength scattered by those crystals according the Bragg's law. Using tel -X-Ometer (Tel 580) it was found that the diffraction space of MgO is 0.456 nm, LiF is 0.415 nm and of NaF is o.458 nm. These results differ from the numbers reported in the Handbook lattice spacing about 8,3 % fo MgO; 2,98% for LiF; and 0,87% for NaF"

"Penentuan spektrum sinar X perlu dilakukan untuk mengetahui kualitas radiasi yang keluar dari tabung sinar X, selain karakteristik detektor yang digunakan untuk pengukuran yang harus diketahui untuk mencegah terjadinya kesalahan penafsiran spektrum hasil pengukuran. Penelitian ini menggunakan pesawat sinar X YXLON YTU ? 320 D303 dan menggunakan detektor XR ? 100 ? CdTe serta software XCOMP5R. model pesawat ini diletakkan pada jarak 100 cm dari detektor, dengan ketebalan detektor CdTe sebesar 1 mm dan berjari ? jari sebesar 0.15 mm. Penelitian juga mencari hubungan spektrum sinar X dengan XCOMP5R untuk mencari karakteristik detektor CdTe dengan mengasumsikan spektrum XCOMP5R sebagai spectrum ideal, dari spektrum sinar X pengukuran dapat diketahui karakteristik dari detektor CdTe tersebut. Karakteristik detektor yang muncul pada saat pengukuran adalah energy K edge dan sinar X karakteristik Cd dan Te yaitu Cd nilai K edge 26.704 keV, ka1 22.982 keV, ka2 23.172 keV, kb1 26.093 keV, kb2 26.641 keV. Te nilai K edge 31.800 keV, Ka1 27.200 keV, Ka2 27.471 keV, Kb1 30.993 keV, Kb2 31.698 keV. Sebelum melakukan pengukuran spektrum, kita harus mengetahui karakter detektor untuk mencegah terjadinya penafsiran data.

---

Determination of the X-ray spectrum is important to know the quality of the radiation of the X-ray tubes, in the other hand it is important to characterize the detector used for measurement to prevent misinterpretation of the spectrum from measurement results. The study use X-ray tube YXLON YTU - 320 D303 and using the detector XR ? 100 ? CdTe and XCOMP5R software. X-ray tube model is placed at a distance of 100 cm from the detector, CdTe detector with a thickness of 1 mm and the fingers of 0.15 mm. the studies also aim spectrum and also to characterize it to find relation between XCOMP5R X-ray spectrum and CdTe detector by assuming the spectrum XCOMP5R as an ideal spectrum. Detector characterize that appears at measurement is the energy of K edge and X-ray characteristics of Cd and Te. The value of Cd, K edge is 26.704 keV, Ka1 is 22.982 keV, Ka2 is 23.172 keV, Kb1 is 26.093 keV, Kb2 is 26.641 keV. Values of Te, K edge is 31.008 keV, Ka1 is 27.200 keV. Ka2 is 27.471 keV, Kb1 is 30.993 keV, Kb2 is 31.698 keV. Before using detector for measurements, we must know the characteristics of detector it is important that."