Hasil Pencarian  ::  Simpan CSV :: Kembali

"Abstract Spectral decomposition is an established technique for stratigraphic analysis from seismic reflection data. Interpretation is usually purely qualitative, but in some circumstances the technique can also provide quantitative information about bed thickness, especially near or below seismic resolution. This thesis describes a novel extension of the spectral decomposition technique that improves the accuracy of bed thickness estimation. Thin beds produce periodic notches in the spectrum of the seismic trace. The spacing of these notches, which is inversely proportional to bed thickness, can be accurately measured by calculating the Fourier transform of the spectrum. This so-called cepstrum has local maxima corresponding to the thickness of the thin bed or beds. Since the technique does not rely on picking a single frequency, but instead detects tuning effects from the entire spectrum, it copes better with noise and is also able to resolve overlapping and interfering thin-bed effects. In this thesis, I present examples from two-dimensional synthetic seismic traces, three-dimensional synthetic seismic models and three-dimensional synthetic real data. The result show that in two-dimensional synthetic seismic traces that using this technique can separate reflector better than classic data processing. in three-dimensional seismic traces this technique also work well to show channel possibility and predict their thickness. Cepstral peaks are also a better predictor of thickness than the time difference between the top and base interpreted from the seismic trace. Key Word: Spectral decomposition; bed thickness; cepstrum; spectrum (xii+62) hlm; gbr; lamp; Daftar Acuan : 20 (1963-2006)"

"Abstrak Lapisan Tipis Ba0,5Sr0,5TiO3 IM dengan variasi suhu pemanasan proses pembuatan telah dihasilkan. Menggunakan teknik CSD (chemical solution deposition ) pada spin coating yang diputer 3000 rpm selama 30 detik. sampel yang ada diberikan perlakuan panas beberapa tahap (pengeringan-pirolisis-annealing). Struktur dari lapisan tipis BST dianalisis dengan menggunakan XRD ..."

"Abstrak Mikrostruktur lapisan tipis amorf silikon karbon terhidrogenasi (a-Sich) telah dianalisis dengan menggunkan pendekatan medium efektif (PME) Bruggemann. Lapisan tipis dihasilakan dengan metode deposisi dc magnetron sputtering menggunakan dua jenis target : silikon dan grafit. Mikrosstruktur lapisan tipis ini dimodelkan terdiri atas tiga komponen: amorf tetrahedral (a-SicCH), amorf grafitik (a-C), dan microvoid. Untuk memperoleh respon optis komponen amor ..."

"Telah dibuat rancang bangun alat uji untuk mengetahui konstantadielektrik sampel dengan metode arus konstan yang tampilannyamenggunakan piranti lunak LabVIEW (National Instruments, Texas).Pengontrolan dilakukan oleh PC dengan memberikan output dari 0 voltsampai 5 volt. Sample yang digunakan pada pengujian ini adalah kacacorning yang dilapisi bahan dielektrik PZT (Lead Zirkonat Titanat) yang telahdidoping. Lapisan tipis PZT yang telah didoping terdiri dari PGZT, PIZT,PNZT, dan PVZT. Lapisan tipis ini ditempatkan pada elektroda yang diberitegangan listrik sebesar 1000 VDC. Pada penelitian ini didapat teganganoutput dari masing-masing lapisan tipis tersebut. Konstanta dielektrik didapatdengan menggunakan RLC meter, berikut adalah konstanta dielektrik darimasing-masing bahan lapisan tipis : PGZT 8% = 20.062, PIZT 8% = 20.178,PNZT 8% = 22.211, PVZT 8% = 22.923, corning = 2.061."

"Telah dilakukan immobilisasi TiO2 dalam bentuk lapisan tipis pada permukaan kaca preparat. Teknik pelapisan menggunakan teknik proses sol-gel (PSG) dari prekursor titanium tetraisopropoksida yang dilarutkan dalam isopropanol pada konsentrasi 0,05 M dan 0,1 M. Lapisan tipis yang diperoleh dikarakterisasi dengan instrumen spektrofotometer UV-Vis, difraksi sinar-x, foto SEM, serta dilakukan uji aktivitas mendegradasi fenol sebagai model limbah organik dan uji adsorbsi. Hasil XRD menunjukkan bahwa kristal yang diperoleh anatase dan tidak terdeteksi adanya rutil. Dari difraktogram tersebut juga dapat diperkirakan ukuran kristal yang dihasilkan adalah sekitar 19 - 39 nm. Foto SEM menunjukkan permukaan yang cukup berpori, namun uji adsobsi menunjukkan peningkatan luas permukaan hanya 20%. Dari hasil uji aktivitas dapat diprediksi bahwa katalis dengan tebal 6,33 µm, dan kandungan TiO2 1,04 mg/cm2 akan memiliki aktivitas optimum.

---

The Characterization of Thin Layer Titanium Dioxide from Titanium Tetraisopropoxide Precursor and the Examination of Its Activity as Photo CatalystImmobilization of TiO2 as thin layer on microscope slide glasses has been done. The slide was coated by sol-gel technique with titanium tetraisopropoxide as precursor diluted in isopropanol at the concentration of 0.05 M and 0.1 M. The thin films produced were characterized with W-Vis spectrophotometer, X-ray diffraction analyzer (XRD), SEM, and the activity as photo catalyst was examined by degrading phenol as an organic pollutant model, and also done adsorption examination.

The XRD results show that the crystal produced were in the anatase form and there are no rutile form detected. The results were also provide that the expectation size of the crystal was about 19 -- 37 nm. SEM results show moderate porosity of the thin layer surface but the adsorption examinations provide that the effective surface width increased in only 20 percent. From the result of activity examinations was been able to predict that thin layer catalyst at the thick of 6.33 µm, and TiO2 loading of 1.04 mg/cm2 has maximum activity."