Hasil Pencarian  ::  Kembali

Warsito, author

Artikel ini menunjukkan sebuah metode untuk memahami sistem pencitraan OBIV (optical beam induced voltage) yang biasanya menggunakan sistem laser scanning microscopy. Sistem pencitraan OBIV ini memanfaatkan sensor fotoresistor sebagai sampel uji yang sekaligus dapat digunakan untuk menganalisis homogenitas tanggapannya. Resolusi dari sistem pencitraan ini masih terlalu rendah yaitu sekitar 350µm...

Depok: Lembaga Penelitian Universitas Indonesia, 2005

AJ-Pdf

Artikel Jurnal  Universitas Indonesia Library

• Cari yang mirip
• Tambahkan ke Favorit
• Metadata PDF
• Abstrak PDF
• Abstrak