Hasil Pencarian  ::  Simpan CSV :: Kembali

Abstrak :
Fungsi dieiektrik kompleks lapisan tipis amorfsilikon karbon (a-Sii.xCx:H) hasit deposisi sputtering telah ditentukan dengan menggunakan hasil pengukuran spektroskopi ellipsometer. Besaran optis lapisan tipis a-Si/.,Cx:H diperoleh dengan prosedur MSE terhadap tan i// dan cos A hasil eksperimen dengan tan y/ dan cos A model matematis sistem lapisan tipis. Mode! sistem tiga media digunakan untuk mendiskripsikan lapisan tipis a-Sii.xCx:H di alas substrat corning 7059 yang terletak di udara. Fungsi dieiektrik kompleks yang diperoleh merupakan kurva yang mulus terhadap energi dan memperlihatkan kehadiran maksimum kurva. Fungsi dieiektrik bagian riil si merefleksikan kuadrat bagian riil indeks bias n sedangkan fungsi dieiektrik bagian imajiner £2 mewakili karakteristik bagian imajiner indeks bias k. Peningkatan konsentrasi karbon mengurangi tinggi maksimum dan menggeser posisi maksimum kurva ke energi yang lebih tinggi. Gap optis bertambah dengan peningkatan konsentrasi karbon sedangkan parameter B berkurang dengan meningkatnya konsentrasi karbon. Berkurangnya harga parameter B berhubungan dengan peningkatan ketidak-teratwan dari sistem amorf. Pengaruh peningkatan konsentrasi karbon terhadap fungsi dieiektrik, gap optis dan parameter B merupakan akibat dari berkurangnya ikatan Si-Si dan bertambahnya ikatan Si-C. Pengaruh konsentrasi karbon terhadap pseudo-fungsi dieiektrik kompleks mirip dengan fungsi dieiektrik kompleks.

---

The complex dielectric functions of the a-Si/.,Cx:H films deposited by sputtering methods have been determined by spectroscopy ellipsometry. Optical constants of the a-Sii.xCx:H films are obtained from the MSE procedure for the experimental and model parameters y/ and A. Model of three medium systems is used to describe the a-Si/.^C^H films on corning 7059 substrate in air ambient- The complex dielectric function curves are smooth and show a maximum. The real part of dielectric function reflects the behavior of n2 and the imaginary part reflects the dependence of k on energy. The curve maximum decrease in magnitude and shift to the higher energies with the carbon concentration increase. The optical gap becomes higher with the carbon contained increase in the films but the B parameter decreases. The decrease of this parameter has been related to the increase of compositional disorder. The influence of carbon concentration on the dielectric function, optical gap and B parameter is the result of replacing Si-Si bonds by Si-C bonds. The influence of carbon concentration to the pseudo-dielectric function is similar to the dielectric function.

---

The complex dielectric functions of the a-Si/.,Cx:H films deposited by sputtering methods have been determined by spectroscopy ellipsometry. Optical constants of the a-Sii.xCx:H films are obtained from the MSE procedure for the experimental and model parameters y/ and A. Model of three medium systems is used to describe the a-Si/.^C^H films on corning 7059 substrate in air ambient- The complex dielectric function curves are smooth and show a maximum. The real part of dielectric function reflects the behavior of n2 and the imaginary part reflects the dependence of k on energy. The curve maximum decrease in magnitude and shift to the higher energies with the carbon concentration increase. The optical gap becomes higher with the carbon contained increase in the films but the B parameter decreases. The decrease of this parameter has been related to the increase of compositional disorder. The influence of carbon concentration on the dielectric function, optical gap and B parameter is the result of replacing Si-Si bonds by Si-C bonds. The influence of carbon concentration to the pseudo-dielectric function is similar to the dielectric function ;Fungsi dieiektrik kompleks lapisan tipis amorfsilikon karbon (a-Sii.xCx:H) hasit deposisi sputtering telah ditentukan dengan menggunakan hasil pengukuran spektroskopi ellipsometer. Besaran optis lapisan tipis a-Si/.,Cx:H diperoleh dengan prosedur MSE terhadap tan i// dan cos A hasil eksperimen dengan tan y/ dan cos A model matematis sistem lapisan tipis. Mode! sistem tiga media digunakan untuk mendiskripsikan lapisan tipis a-Sii.xCx:H di alas substrat corning 7059 yang terletak di udara. Fungsi dieiektrik kompleks yang diperoleh merupakan kurva yang mulus terhadap energi dan memperlihatkan kehadiran maksimum kurva. Fungsi dieiektrik bagian riil si merefleksikan kuadrat bagian riil indeks bias n sedangkan fungsi dieiektrik bagian imajiner £2 mewakili karakteristik bagian imajiner indeks bias k. Peningkatan konsentrasi karbon mengurangi tinggi maksimum dan menggeser posisi maksimum kurva ke energi yang lebih tinggi. Gap optis bertambah dengan peningkatan konsentrasi karbon sedangkan parameter B berkurang dengan meningkatnya konsentrasi karbon. Berkurangnya harga parameter B berhubungan dengan peningkatan ketidak-teratwan dari sistem amorf. Pengaruh peningkatan konsentrasi karbon terhadap fungsi dieiektrik, gap optis dan parameter B merupakan akibat dari berkurangnya ikatan Si-Si dan bertambahnya ikatan Si-C. Pengaruh konsentrasi karbon terhadap pseudo-fungsi dieiektrik kompleks mirip dengan fungsi dieiektrik kompleks.

---

Abstract
The complex dielectric functions of the a-Si/.,Cx:H films deposited by sputtering methods have been determined by spectroscopy ellipsometry. Optical constants of the a-Sii.xCx:H films are obtained from the MSE procedure for the experimental and model parameters y/ and A. Model of three medium systems is used to describe the a-Si/.^C^H films on corning 7059 substrate in air ambient- The complex dielectric function curves are smooth and show a maximum. The real part of dielectric function reflects the behavior of n2 and the imaginary part reflects the dependence of k on energy. The curve maximum decrease in magnitude and shift to the higher energies with the carbon concentration increase. The optical gap becomes higher with the carbon contained increase in the films but the B parameter decreases. The decrease of this parameter has been related to the increase of compositional disorder. The influence of carbon concentration on the dielectric function, optical gap and B parameter is the result of replacing Si-Si bonds by Si-C bonds. The influence of carbon concentration to the pseudo-dielectric function is similar to the dielectric function.

Abstrak :
Pada penelitian ini medan magnet akan ditingkatkan untuk mendapatkan konstanta verdet yang bervariasi Kumparan dengan diameter 2 mm dan hambatan 1,5 Ohm dirancang untuk menghasilkan medan magnet kuat hingga mencapai 500 mT. Kumparan akan dilewatkan arus maksimum 20 A dan tegangan maksimum 30 V. Namun kumparan 2 mm yang dilewati arus sebesar 20 A akan menimbulkan panas berlebih yang mengganggu kestabilan besar medan magnet yang dihasilkan sehingga diperlukan penambahan sebuah sistem pendingin menggunakan blok air yang ditempelkan pada inti magnet dan kumparan. Apabila medan magnet kuat memengaruhi material mengneto-optik (MOE) fase cair yang dilewatkan cahaya maka disebut sebagai metode rotasi faraday. Metode rotasi faraday digunakan untuk mencari besar konstanta verdet. Konstanta verdet merupakan representasi karakteristik material magneto-optik (MOE) fase cair. Pada penelitian ini untuk mendapatkan nilai konstanta verdet, nilai yang diukur adalah besar medan magnet, besar sudut cahaya yang terpolarisasi, dan intensitas cahaya. Menggunakan cahaya laser merah berbentuk titik dengan panjang gelombang 650 nm dengan intensitas cahaya maksimum sebesar 54612 lux. Perubahan sudut dilakukan menggunakan gir yang terhubung degan stteper motor dan sistem analisator. Pengambilan data menggunakan teknik polarisasi yang terpengaruh oleh medan magnet eksternal. Nilai medan magnet yang terukur oleh teslameter dengan variasi antara -250—250 mT. Sudut rotasi faraday diperoleh dari selisih besar sudut polarisator dan analisator dengan selisih sudut mula-mula sebesar 45°. Cahaya yang melewati polarisator dan analisator akan terdeteksi oleh sensor cahaya BH1750. Hasil penelitian ini akan menunjukkan besar konstanta verdet dari setiap material magneto-optik (MOE) fase cair. ......In this research, the magnetic field will be increased to obtain a variable verdet constant. The coil with a diameter of 2 mm and a resistance of 1.5 Ohm is designed to produce a strong magnetic field up to 500 mT. The coil will pass a maximum current of 20 A and a maximum voltage of 30 V. However, a 2 mm coil that is passed by a current of 20 A will cause excessive heat which disrupts the stability of the large magnetic field produced, so it is necessary to add a cooling system using a water block attached to the magnetic core and coil. If a strong magnetic field affects the magneto-optic element (MOE) that is passed by light, it is called the Faraday rotation method. Faraday rotation method is used to find the verdet constant. The verdet constant is a representation of the characteristics of the liquid phase magneto-optic element (MOE). In this research to obtain the value of the verdet constant, the measured values are the magnitude of the magnetic field, the angle of polarized light, and the intensity of light. Using red laser light in the form of a point with a wavelength of 650 nm with a maximum light intensity of 54612 lux. Angle changes are carried out using gears connected to the stepper motor and analyzer system. Data retrieval using a polarization technique that is affected by an external magnetic field. The value of the magnetic field measured by the teslameter varies between -250—250 mT. Faraday rotation angle is obtained from the large difference between the polarizer and the analyzer angle with the initial angle difference of 45°. Light that passes through the polarizer and analyzer will be detected by the BH1750 light sensor. The results of this study will show the magnitude of the verdet constant of each liquid phase magneto-optic element (MOE).