Ditemukan 1 dokumen yang sesuai dengan query
Benny Joseph Gowasa, author
Teknologi analisa difraksi sinar-X (XRD) memiliki keterbatasan dalam pendeteksian dan keakuratan data yang dihasilkan oleh peralatan XRD. Hal ini disebabkan perbedaan setiap parameter pengukuran peralatan XRD yang digunakan. Untuk mendapatkan hasil yang akurat dalam pendeteksian peralatan XRD terlebih dahulu harus mengetahui sifat kristalin dan amorf material kemudian menentukan parameter...
Depok: Fakultas Teknik Universitas Indonesia, 2016
S62620
UI - Skripsi Membership Universitas Indonesia Library