Hasil Pencarian  ::  Kembali

Anom Surya Putra, author

Bandung: Citra Aditya Bakti, 2003

340.115 ANO t

Buku Teks  Universitas Indonesia Library

• Cari yang mirip
• Tambahkan ke Favorit
• Metadata PDF

Jakarta: Yayasan Obor Indonesia dan PPW-LIPI, 1998

324.959 8 MEN

Buku Teks  Universitas Indonesia Library

• Cari yang mirip
• Tambahkan ke Favorit
• Metadata PDF

N. Satriawan, author

Analisis Rielveld dengan program EXPGUI-GSAS dapat digunakan untuk meneliti kekristalan material. Pada penelitian dilakukan penghalusan parameter-parameier struktur liga sampel film tipis PIZT diatas subslrat Pi (200)/Si(VSi(tOO) dengan variasi doping indium, didapat indikator keberhasilan R-pola (Rp) pada selang (5,77-10,36)%, R-pola dengan pemberat (wRp) pada selang aniara (8,59-15,35)% dan Goodness of fit...

[place of publication not identified]: Sains Indonesia, 2003

SAIN-8-3-2003-1

Artikel Jurnal  Universitas Indonesia Library

• Cari yang mirip
• Tambahkan ke Favorit
• Metadata PDF
• Abstrak PDF
• Abstrak