:: UI - Skripsi Membership :: Kembali

UI - Skripsi Membership :: Kembali

Pengukuran sebaran resistivitas pada lapisan tipis indium tin oksida dengan menggunakan four point probe

(Universitas Indonesia, 2004)

 Metadata

No. Panggil : S29070
Penerbitan : [Place of publication not identified]: Universitas Indonesia, 2004
Program Studi :
Bahasa : ind
Sumber Pengatalogan :
Tipe Konten :
Tipe Media :
Tipe Carrier :
Deskripsi Fisik : vii, 50 hlm. ; 28 cm. + lamp.
Naskah Ringkas :
Lembaga Pemilik : Universitas Indonesia
Lokasi : Perpustakaan UI, Lantai 3
  • Ketersediaan
  • Ulasan
No. Panggil No. Barkod Ketersediaan
S29070 TERSEDIA
Ulasan:
Tidak ada ulasan pada koleksi ini: 20178099