Pengukuran sebaran resistivitas pada lapisan tipis indium tin oksida dengan menggunakan four point probe
(Universitas Indonesia, 2004)
|
| No. Panggil : | S29070 |
| Penerbitan : | [Place of publication not identified]: Universitas Indonesia, 2004 |
| Program Studi : |
| Bahasa : | ind |
| Sumber Pengatalogan : | |
| Tipe Konten : | |
| Tipe Media : | |
| Tipe Carrier : | |
| Deskripsi Fisik : | vii, 50 hlm. ; 28 cm. + lamp. |
| Naskah Ringkas : | |
| Lembaga Pemilik : | Universitas Indonesia |
| Lokasi : | Perpustakaan UI, Lantai 3 |
| No. Panggil | No. Barkod | Ketersediaan |
|---|---|---|
| S29070 | TERSEDIA |
| Ulasan: |
| Tidak ada ulasan pada koleksi ini: 20178099 |
