Penggunaan vektor uji acak-semu dan analisa tanda pada pengetesan VLSI dengan B.I.S.T.
Harry Sudibyo S.;
(Fakultas Teknik Universitas Indonesia, 1996)
|
| Built-In Self-Test (BIST) adalah metode pengujian rangkaian dimana pembangkitan vektor uji dan pemeriksaan hasil tes dilakukan oleh suatu rangkaian yang dirancang di dalam rangkaian yang diuji. Saat ini BIST menjadi sangat penting terutama dalam pengujian rangkaian kecepatan tinggi dan kompleks, hal ini disebabkan banyaknya faktor-faktor penting dalam rangkaian itu dan juga BIST tidak memerlukan peralatan uji otomatik (Automatic Test Equipment) yang relatif mahal. Dalam paper ini kami akan membahas mengenai BIST yang menggunakan vektor yang dibangkitkan secara acak semu (pseudorandon) sebagai pencatu uji dan teknik analisa tanda untuk verifikasi hasil tes. Metode yang dibahas di sini memungkinkan perancang IC untuk mengimplementasikan metode BIST dalam rangkaiannya dengan mempergunakan beberapa pertimbangan rancangan dan perpindahannya untuk mencapai efisiensi perangkat keras dan tingkat pengendalian, pengawasan dan kemampuan uji yang tinggi. |
 LP-Harry Sudibyo S.pdf :: Unduh
|
| No. Panggil : | LP-pdf |
| Entri utama-Nama orang : | |
| Entri tambahan-Nama badan : | |
| Penerbitan : | Depok: Fakultas Teknik Universitas Indonesia, 1996 |
| Program Studi : |
| Sumber Pengatalogan | LibUI ind rda |
| Tipe Konten | text |
| Tipe Media | computer |
| Tipe Carrier | online resource |
| Deskripsi Fisik | ii, 26 pages : illustration ; 28 cm |
| Lembaga Pemilik | Universitas Indonesia |
| Lokasi | Perpustakaan UI, Lantai 3 |
| No. Panggil | No. Barkod | Ketersediaan |
|---|---|---|
| LP-pdf | 09-21-988511769 | TERSEDIA |
| Ulasan: |
| Tidak ada ulasan pada koleksi ini: 20288493 |
