Pengukuran simpangan tegak lurus permukaan obyek uji menggunakan metode moire proyeksi
Dini Andiani, supervisor;
Andrianto Handojo, promotor; Hamdani Zain, co-promotor; Sardy S., examiner; Farid Ruskanda, examiner; Sanioso, examiner; Suprapedi, examiner; Kalamullah Ramli, examiner
([Publisher not identified]
, 2005)
|
|
ABSTRAK Metode moiré telah banyak digunakan terhadap permukaan obyek, yaitu untukmengukur simpangan sejajar permukaan dan untuk memetakan topografi permukaan,tetapi masih jarang untuk mengukur simpangan tegak Iurus permukaan. Dalamdisertasi ini telah diselidiki pengukuran simpangan tegak lurus obyek denganmemanfaatkan metode moire proyeksi. Sebagai kisi proyeksi, digunakan hasilinterferensi cahaya laser dari perangkat interferometer Michelson, yang dikenalsebagai kisi maya. Sistem yang dikembangkan terdiri atas dua bagian utama, yaitu bagian optikyang terdiri alas sumbar cahaya laser, interferometer Micheison, dan kamera CCDyang dihubungkan dengan komputer untuk merekam citra. Bagian kedua ialahprogram pengolah citra yang dibuat khusus untuk penelitian ini. Dalam percobaan digunakan obyek uji berbentuk pelat memanjang yang satuujungnya dijepit dan ujung lainnya ditekan dengan sebuah mikrometer. Sejumlah citradirekam dari kisi yang terproyeksi pada permukaan obyek, sebelum dan sesudahobyek mengalami simpangan. Oleh program pengolah citra, citra-citra tersebutdikurangkan satu sama lain untuk memperoleh pola moiré. Dari kerapatan pola moiré,simpangan permukaan dapat disimpulkan. Pemakaian komputer mempercepat proses perekaman dan pengolahan citra.Untuk perekaman 10 citra dan pengolahannya, pola frinji moiré dapat diperoleh dalamwaktu sekitar 30 menit. Dalam percobaan dilibatkan berturut-turut kisi maya dengan 3 kerapatan yangberbeda. Kisi yang rapat mempunyai periode 0,817 mm pada permukaan obyek danmemberikan ketelitian pengukuran simpangan sebesar 1,85 mm. Kisi yang lebihrenggang mempunyai periode 1,196 mm dan menghasilkan ketelitian 1,01 mm,sedangkan kisi yang paling renggang mempunyai periode 1,419 mm dan memberikanketelitian 1,51 mm. Diperoleh bahwa simpangan yang kecil menghasilkan periode frinji moiréyang besar, sehingga dapat melampaui bidang perekaman. Karenanya terdapat batassimpangan minimum yang dapat diukur. Dinyatakan dalam W sebagai simpangan pada lokasi mikrometer, batas tersebut berkisar dari W =4 mm dengan kisi yang rapat hingga W = 6 mm dengan kisi yang paling renggang. Di pihak lain, kisi yang rapat pada simpangan yang besar akan menghasilkan frinji moire yang sangat berdekatan sehingga menyulitkan penentuan periode frinji moire. Dalam percobaan dengan kisi yang rapat, hal tersebut terjadi waktu W > 12 mm. Abstract The moiré method has been extensively used for the surface measure of anobject, i. e. to measure the in-plane displacement ofthe surface and to map the surfacecontour. Howe ver, so far the method is rarely utilized to measure the out-of-planedisplacement. In this dissertation, the measurement of the out-ojlplane displacementhas been investigated by employing projection moiré method As the projected grid ovirtual grating formed by interjerencs of laser light from a Michelson interferometeris involved The system developed in this research consists of two main parts. The opticalpart comprises a laser source, a Michelson interferometer, and a CCD cameracoupled to a computer for recording the images. The second part is an imageprocessing program that is specially developed for this work. In experiments, the object takes the form of a cantilever clamped at its one andpushed at the other end by a micrometer. Several images are recorded from theprojected gratings at the object surface, before and after displacement. By an imageprocessing program, the images are subtracted one from the other to obtain moiréfringe patterns. From the fringe period surface displacement can be determined. The use of the computer has speeded up the recording and the processing ofthe images. The whole sequence of recording 10 images successively and processingthem to obtain the moiré fringe pattern takes no longer than 30 minutes. Three virtual grating with diferent periods have been involved in theexperiments. The most dense grating has a period of 0.81 7 mm at the object surface,resulting the in an accuracy of the displacement measurement of 1. 85 mm. Thecoarser grating shows a period 1.196 mm and yields an accuracy of 1.01 mm. Theperiod of coarsest grating is 1.419 mm, resulting in an accuracy of 1. 51 mm. In the case of small surface displacement, large moiré fringe periods havebeen produced which may exceed the recording frame size. Consequently, there is aminimum value of the measurable displacement. This minimum displacement rangesfrom W = 4 mm for the most dense grating to W = 6 mm for the coarsest virtualgrating, W being the object displacement at the micrometer location.. On the other hand, large surface displacement observed with dense virtual grating produces small periods of the moire fringes, which make it very difficult to evaluate. In the experiments it occurs of W > 12 mm. |
 D663-Dini Andiani.pdf :: Unduh
|
| No. Panggil : | D663 |
| Entri utama-Nama orang : | |
| Entri tambahan-Nama orang : | |
| Entri tambahan-Nama badan : | |
| Subjek : | |
| Penerbitan : | [Place of publication not identified]: [Publisher not identified], 2005 |
| Program Studi : |
| Bahasa : | ind |
| Sumber Pengatalogan : | |
| Tipe Konten : | text |
| Tipe Media : | unmediated ; computer |
| Tipe Carrier : | volume ; online resource |
| Deskripsi Fisik : | xiii, 114 pages : illustration + appendix |
| Naskah Ringkas : | |
| Lembaga Pemilik : | Universitas Indonesia |
| Lokasi : | Perpustakaan UI, Lantai 3 |
| No. Panggil | No. Barkod | Ketersediaan |
|---|---|---|
| D663 | 07-17-112431037 | TERSEDIA |
| Ulasan: |
| Tidak ada ulasan pada koleksi ini: 20425461 |
