Pengamatan gejala defleksi fototermal pada lempeng silikon dengan teknik transversal
([Publisher not identified]
, [Date of publication not identified]
)
|
| Telah dilakukan pengamatan sinyal fototermal pada lempeng silikon dengan teknik defleksi fototermal transversal, yaitu berkas laser penguji dilewatkan permukaan lempeng secara menyusur. Dalam metode ini digunakan laser Argon Ion sebagai pemompa dan He-Ne sebagai berkas penguji. Gejala fototermal yang muncul tergantung dari konsentrasi atom-atom atau senyawa senyawa pada bahan yang bersifat menyerap radiasi laser |
| No. Panggil : | JURFIN 7:21 (2003) |
| Subjek : | |
| Sumber Pengatalogan : | |
| ISSN : | 14102994 |
| Majalah/Jurnal : | Jurnal Fisika Indonesia 7 (21) Agustus 2003. Hal. : 27-34 |
| Volume : | |
| Tipe Konten : | |
| Tipe Media : | |
| Tipe Carrier : | |
| Akses Elektronik : | |
| Institusi Pemilik : | Universitas Indonesia |
| Lokasi : | Perpustakaan UI, Lantai 4 R. Koleksi Jurnal |
| No. Panggil | No. Barkod | Ketersediaan |
|---|---|---|
| JURFIN 7:21 (2003) | TERSEDIA |
| Ulasan: |
| Tidak ada ulasan pada koleksi ini: 20426222 |
