Studi spektroskopi ellipsometri lapisan tipis amorf silikon karbon (a-SiC:H) yang dihasilkan dengan metode deposisi DC sputtering
([Publisher not identified]
, [Date of publication not identified]
)
|
| Sumber Pengatalogan : | |
| ISSN : | |
| Majalah/Jurnal : | Makara 5(2)Des.2001 : 46-50 |
| Volume : | |
| Tipe Konten : | |
| Tipe Media : | |
| Tipe Carrier : | |
| Akses Elektronik : | |
| Institusi Pemilik : | |
| Lokasi : |
| No. Panggil | No. Barkod | Ketersediaan |
|---|---|---|
| TERSEDIA |
| Ulasan: |
| Tidak ada ulasan pada koleksi ini: 63796 |
