Ditemukan 1 dokumen yang sesuai dengan query
N. Satriawan, author
Analisis Rielveld dengan program EXPGUI-GSAS dapat digunakan untuk meneliti kekristalan material. Pada penelitian dilakukan penghalusan parameter-parameier struktur liga sampel film tipis PIZT diatas subslrat Pi (200)/Si(VSi(tOO) dengan variasi doping indium, didapat indikator keberhasilan R-pola (Rp) pada selang (5,77-10,36)%, R-pola dengan pemberat (wRp) pada selang aniara (8,59-15,35)% dan Goodness of fit...
[place of publication not identified]: Sains Indonesia, 2003
SAIN-8-3-2003-1
Artikel Jurnal Universitas Indonesia Library
