Beranda
Koleksi
Buku
Buku Klasik
Buku MPKT B
Buku Referensi
Buku Teks
UI-ana
UI - Disertasi (Membership)
UI - Disertasi (Open)
UI - Laporan Penelitian
UI - Makalah dan Kertas Kerja
UI - Pidato
UI - Publikasi
UI - Skripsi (Membership)
UI - Skripsi (Open)
UI - Tesis (Membership)
UI - Tesis (Open)
UI - Tugas Akhir
Artikel Jurnal
eBooks
Majalah, Jurnal, Buletin
Multimedia
Naskah
Prosiding
Koleksi Terbaru
Database Online (EZ-Poxy)
Tamu
Login
Usulan Pengadaan
Permintaan Informasi
Tanya Pustakawan
Favorit Saya
Saran dan Keluhan
Buku Tamu
Bebas Pustaka
Akun Saya
Favorit Saya
Beranda
/
Hasil Pencarian
::
Hasil Pencarian ::
Simpan CSV
::
Kembali
Hasil Pencarian
Ditemukan
1
dokumen yang sesuai dengan query
Whitehouse, David J., author
Handbook of surface and nanometrology
Philadelphia: IOP , 2003
R 620.5 WHI h
Buku Referensi
Universitas Indonesia Library
Cari yang mirip
Tambahkan ke Favorit
