::  Hasil Pencarian  ::  Simpan CSV :: Kembali

Jon Hendri, author

Sampel Nd2Fe14B yang berupa bubuk dan berwama hitam telah diperiksa dengan difraksi sinar-x pada temperatur 299,7 K. Data hasil difraksi sinar-x tersebut dianalisis dengan analisis Rietveld untuk memperhalus parameter-parameter mikronya. Sebanyak 25 parameter telah diperhalus, yaitu: koordinat atom (12), koefisien puncak FWHM (3), konstanta kisi (2), faktor skala (I), titik...

Depok: Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam Universitas Indonesia, 1996

T-Pdf

UI - Tesis Membership  Universitas Indonesia Library

• Cari yang mirip
• Tambahkan ke Favorit
• Abstrak