::  Hasil Pencarian  ::  Simpan CSV :: Kembali

Hasil Pencarian

 
Ditemukan 1 dokumen yang sesuai dengan query
cover
Analisa stress induced leakage current (SILC) dengan model trap assisted dan perbandingannya dengan fowler nordheim (FN) tunneling
Stress Induced Leakage C urren! (SILC) telah menjadi suatu fenomena tersendiri dalam perkembangan divais MOSFET. SILC yang lbih dikenal dengan nama arus bocor ini, hadir setting dengan berkembangnya teknologi mikron dalam sebuah divais MOSFET. Berbagai penelitian telah dilakukan demi memperoleh suatu pengertian baku yang mampu menjelaskan keseluruhan fenomena SILC ini,...
Fakultas Teknik Universitas Indonesia, 2002
S39826
UI - Skripsi (Membership)  Universitas Indonesia Library