Pembuatan alat kontrol arus konstan untuk pengujian bahan lapisan tipis dielektrik.

Penentuan fungsi dielektrik kompleks dari hasil pengukuran spektroskopi ellipsometer untuk lapisan tipis amorf silikon karbon hasil deposisi sputtering

Pengukuran Nilai Konstanta Dielektrik Padat dengan Alat Microwave Test Bench

Penentuan konstanta optis dengan menggunakan spektrum transmisi untuk lapisan tipis amorf silikon karbon(a-SiC:H) hasil deposisi DC sputtering

Penentuan konstanta optis di daerah absorpsi fundamental menngunakan formulasi forouhi dan bloomer untuk lapisan tipis amorf silikon karbo (a-SiC:H)