Blocher, Richard
Dasar elektronika
Andi, 2003
 Buku Teks
Purba, Taryono
Analisa tunnel current pada MOS capasitor dengan ketebalan lapisan oksida 0,6-3nm dengan menggunakan multiple scattering theory (MST) dan boltzman transport equation (BTE)
Fakultas Teknik Universitas Indonesia, 2004
 UI - Skripsi (Membership)
Studi cacat permukaan pada komponen radiator hasil pengempaan dan perlakuan panas dari lembaran kuningan
Fakultas Teknik Universitas Indonesia, 1993
 UI - Skripsi (Membership)
Electronic testing
compiled and edited by L. L. Farkas
McGraw-Hill, 1966
 Buku Teks
Yanuar Ikhsan
Pembuatan osiloskop digital berbasis windows menggunakan ADCO804
Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam Universitas Indonesia, 2000
 UI - Skripsi (Membership)